DT304-T26超高阻微電流測(cè)試儀（高阻型體電阻率表面電阻率測(cè)試儀）是運(yùn)用環(huán)形三電極法原理測(cè)量固體片狀、薄膜 狀導(dǎo)靜電材料、絕緣材料體積電阻率和表面電阻率的多用途綜合測(cè)量裝置，也可作為超高阻計(jì)或微電流測(cè)試儀使用。該儀器設(shè)計(jì)符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 1410－2006/IEC 60093:1980：《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》。

儀器成套組成：由 高阻儀主機(jī)、標(biāo)配的環(huán)形三電極、連接線纜等部分組成。主機(jī)主要由高壓電源、微電流檢測(cè)計(jì)、嵌入式單片機(jī) 系統(tǒng)組成。

優(yōu)勢(shì)特征：

1 操作方式數(shù)字化，所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤(pán)輸入，操作簡(jiǎn)便、性能穩(wěn)定、壽命長(zhǎng)，克服傳統(tǒng)機(jī)械開(kāi)關(guān)功能單一、故障率

高、體積大等缺點(diǎn)。

2 測(cè)試過(guò)程自動(dòng)化，電壓、電流量程轉(zhuǎn)換，全部數(shù)字化電子開(kāi)關(guān)，可手動(dòng)/自動(dòng)任選，避免傳統(tǒng)機(jī)械開(kāi)關(guān)操作繁瑣，特別是不能自動(dòng)化、人工

數(shù)據(jù)后期處理的缺點(diǎn)。

3 雙窗口結(jié)果顯示，數(shù)字化、多樣化，由數(shù)字表頭直接顯示，避免傳統(tǒng)模擬表頭讀數(shù)誤差。雙數(shù)字表頭顯示，左窗口顯示體積電阻率、表面電

阻測(cè)試結(jié)果，右窗口顯示顯示測(cè)試電壓、測(cè)試電流測(cè)試條件，以及設(shè)定修正系數(shù)，內(nèi)容全面。

4 測(cè)試安全保護(hù)，測(cè)試高壓獨(dú)立操作開(kāi)關(guān)，測(cè)試電流過(guò)流保護(hù)，有效保護(hù)儀器和操作者誤操作的安全。

5 便于功能拓展，選配薄膜測(cè)試探頭，可以測(cè)試高阻薄膜，選配夾具可以當(dāng)高阻計(jì)和微電流表使用。也可測(cè)試高阻液態(tài)電阻率。

電極或夾具選配：儀器配備標(biāo)準(zhǔn)環(huán)形三電極，適用于一般片狀、薄膜狀樣品，客戶也可自備或定制電極以擴(kuò)大應(yīng)用場(chǎng)合，如從圓柱形外表、

筒狀內(nèi)壁測(cè)試電阻率和表面電阻，測(cè)試高阻元器件，測(cè)試微電流。

儀器具有測(cè)量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。

基本技術(shù)參數(shù)

1. 測(cè)量范圍、分辨率

電 阻：1.0×102 ～ 2.0×1014 Ω, 分辨率 0.01×102 ～ 0.01×1014 Ω

電 阻 率： Kv×（1.0×102 ～ 2.0×1014 ）Ω-cm，分辨率 0.01×103 ～ 0.01×1014 Ω-cm，K=1～1000，修正系數(shù)。

方塊電阻： K□×（1.0×102 ～ 2.0×1014 ）Ω/□，分辨率 0.01×103 ～ 0.01×1014 Ω/□，K□=34.5，修正系數(shù)。

量程劃分及誤差等級(jí)

3 工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤20W

4 外形尺寸：W×H×L=32cm×13cm×32cm

凈 重：≤3.5kg

5 環(huán)形三電極和可測(cè)樣品尺寸

電極是由三個(gè)獨(dú)立的單元組成:

5.1中心為圓柱體,直徑為50mm,高度是40mm。

5.2圓柱體外為一圓環(huán),圓環(huán)內(nèi)徑為60mm,外徑為80mm, 高是40mm。

5.3 底為一平板, 直徑為 100mm 的圓板，厚度一般為 10mm

可測(cè)樣品尺寸大于直徑 90mm。厚度小于 10mm。