XF802-P30厚度表用來測量薄膜,紙張,塑料等薄片材料的厚度。該儀器可以和Testex拓片紙配合使用,測量表面處理后的表面粗糙度。
執(zhí)行標準: NACE RP0287, ASTM D 4417-C, ISO 8503-5
技術指標:
儀器型號 | XF802-P30 |
測量范圍 | 0-1000 μm |
顯 示 | 1 μm |
儀器尺寸 | 125*95*25 mm |
重 量 | 270 g |
裝 箱 單 | SP300主機, 說明書和合格證 |
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防護用品
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分類防護用品
產(chǎn)品薄膜/紙張厚度表
型號XF802-P30
企業(yè)北京百萬電子科技有限公司
價格電詢
產(chǎn)地北京
XF802-P30厚度表用來測量薄膜,紙張,塑料等薄片材料的厚度。該儀器可以和Testex拓片紙配合使用,測量表面處理后的表面粗糙度。
執(zhí)行標準: NACE RP0287, ASTM D 4417-C, ISO 8503-5
技術指標:
儀器型號 | XF802-P30 |
測量范圍 | 0-1000 μm |
顯 示 | 1 μm |
儀器尺寸 | 125*95*25 mm |
重 量 | 270 g |
裝 箱 單 | SP300主機, 說明書和合格證 |